机译:无铅芯片级封装:组装和跌落测试的可靠性
机译:边缘键合无铅芯片级封装的跌落冲击可靠性
机译:不同的跌落测试条件对芯片级封装的板级可靠性的影响
机译:在不同尺寸无铅晶圆级芯片刻度套件上降低可靠性测试
机译:溅射法制备CZTS太阳能电池循环弯曲过程中测量ITO薄膜电阻变化的实验技术使用板级跌落试验研究晶圆级芯片规模封装的可靠性。
机译:分步加速降解测试(SSADT)方法对LED芯片级封装的光度和色度评估
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机译:详细设计数据包:3.1a-薄膜冷却器压降数据;项目3.2a - sBs包装选择;项目3.2b,3.2c - sBs分配板的压降数据;和项目3.2e - sBs分配板和液体提升管。 pHTD中试规模熔化器测试系统成本账户里程为1.2.2.04.15a